Technieken voor het karakteriseren van metalen en legeringen
Wegens de hoge reactiviteit van metalen in tal van gassen en vloeistoffen, worden zuivere metallische vormen van de meeste metalen niet in de natuur aangetroffen maar komen voor in de vorm van oxiden en mineralen, waaruit ze moeten worden vrijgemaakt. Tijdens gebruik bestaat de kans dat de vrijgemaakte metalen weer terug zullen keren naar hun oorspronkelijke toestand. Het is dan ook van technologisch en wetenschappelijk belang om er achter te komen welke wisselwerking er plaatsvindt tussen zulke vrijgemaakte metalen en legeringen en de vele milieus waarin ze worden gebruikt. Aangezien de meeste chemische processen zich aan het metaaloppervlak afspelen en kritische informatie vaak niet makkelijk te verkrijgen is zijn er verscheidene technieken ontwikkeld om die informatie bij elkaar te garen. Elk van deze technieken heeft zo zijn eigen significante voordelen en belangrijke beperkingen. De meeste van deze gereedschappen kunnen recht toe recht aan worden gebruikt maar vaak ook op fijnzinniger wijze.
A.J. Schornagel
Technieken
De meest relevante technieken zijn AES, EDS, SAM, SEM en XPS. Van elk van deze technieken zal een korte beschrijving worden gegeven.
AES
AES of Auger (spreek uit: oozjee) electron spectroscopy, maakt gebruik van een bombardement een proefmonster met fotonen, elektronen of ionen. Dank zij de sterk ontwikkelde technologie waarmee sterk gefocusseerde elektronenbundels kunnen worden verkregen, in combinatie met de oppervlaktegevoeligheid van Auger elektronen, kon er apparatuur worden ontwikkeld met een hoog ruimtelijk oplossend vermogen. Moderne AES systemen en Auger elektronen met een korte ontsnappingsdiepte (betrekkelijk lage kinetische energie) kan een volume worden geanalyseerd van niet meer dan zo’n 300 nm3.
Informatie over samenstelling wordt verkregen uit de pieksterkte. Informatie over de diepte wordt doorgaans verkregen door AES te combineren met ionsputterprofilering. Variatie van de hoek waaronder elektronen worden gedetecteerd...